松下、高精度三次元測定機を開発

松下電器産業株式会社は4月5日、 独自の原子間力プローブ（探針）を搭載することにより、 半径2ミクロンの微細コーナーまで10ナノメートルの超高精度で、 最大400×400×90(mm)のエリアまで測定できる三次元測定機を開発し、 5月より受注を開始すると発表した。

同装置により、青色レーザーを用いた次世代大容量光ディスク用の非球面レンズ、 ブロードバンド対応の光ファイバー通信用部品、大容量メモリーの表面凹凸形状等、 ナノレベルの微細形状が測定できるようになる。